AFM分析

　　AFM分析去哪里做?原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope ，AFM)，一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。

檢測范圍

　　原子力顯微鏡為掃描探針顯微鏡家族的一員，具有納米級的分辨能力，其操作容易簡便，是目前研究納米科技和材料分析的最重要的工具之一。原子力顯微鏡是利用探針和樣品間原子作用力的關系來得知樣品的表面形貌。

檢測標準

　　1GB/T 27760-2011利用Si(111)晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法

　　2GB/T 28872-2012活細胞樣品納米結構的磁驅動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法

　　3GB/T 31227-2014原子力顯微鏡測量濺射薄膜表面粗糙度的方法

　　4GB/T 32189-2015氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗法

　　5GB/T 32262-2015用于原子力顯微鏡檢測的脫氧核糖核酸樣品的制備方法

為什么選擇中科光析化工技術研究所AFM分析?

　　1、中化所AFM分析中心資質齊全，CMA資質認證的第三方檢測機構。

　　2、數據準確，博士團隊，歐美進口檢測設備，保證了數據的準確性。

　　3、研究所檢測報告支持二維碼查詢真偽。

　　4，全國多家分支機構，支持上門取樣，免費初檢。

　　5，售后服務，相關工程師一對一服務。

　　6，可出具中英文檢測報告，及msds報告編寫服務。

AFM分析流程

　　1、前期咨詢

　　2、郵寄AFM分析樣品或上門取樣。

　　3、工程師報價

　　4、支付檢測費用，開展實驗。

　　5、完成實驗，出具檢測報告。

　　6、郵寄檢測報告，售后服務。